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FIB测定影响因素
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。FIB（FreeIonizationBarrier，自由离子化屏障）是描述电化学腐蚀（corrosion）过程的重要参数。电化...
2024-03-24 20:04:18386 -
离子选择电极法目前最多用于检测什么
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。离子选择电极法是一种常用的电化学分析方法，目前最多用于检测金属和非金属元素。该方法通过选择特定的电极材料和电解质，使得只有目标...
2024-03-24 11:22:12350 -
双束聚焦离子束etd tld探头工作原理
双束聚焦离子束ETD-TLD探头是一种用于医学成像的探头,能够提供高分辨率的成像效果。本文将介绍双束聚焦离子束ETD-TLD探头的工作原理。ETD-TLD探头是一种能量传递检测器,用于检测生物组织中的...
2024-03-24 09:00:12285 -
离子电导机制是什么
纳瑞科技（北京）有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。离子电导机制是一种物质传输...
2024-03-24 07:54:20394 -
离子选择性电极的测试和应用
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。离子选择性电极是一种具有高度选择性的电极，能够选择性地识别和分离各种离子。由于其独特的性能，离子选择性电极在生物电化学、环境监...
2024-03-24 06:14:15251 -
聚焦离子束显微镜工作原理视频
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。离子束显微镜（IonBeamMicroscope，IBM）是一种高级的观察技术，利用离子束对样品进行扫描，实现对样品的快速、高...
2024-03-24 00:30:21180 -
子离子扫描结果评价
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间，增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析，二次电子像，以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
2024-03-23 17:42:22190 -
扫描离子电导显微镜nx12配件
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间，增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析，二次电子像，以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
2024-03-23 17:30:18210 -
离子迁移速率影响因素
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间，增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析，二次电子像，以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
2024-03-23 14:46:18302 -
离子镀膜的工作流程和原理视频
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。离子镀膜是一种常用的表面处理技术，主要用于将金属或非金属膜层沉积到基材表面，以提高材料表面的物理、化学性能和耐腐蚀性。离子镀膜...
2024-03-23 13:30:21225
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